ПЕКИН TIME VISION AI INSTRUMENT LTD.
Электронная почта: timehardnesstester@gmail.com
WhatsApp: 008615201625204
——————————————–
Испытание на твердость в воде, твердомер, измеритель шероховатости поверхности Тейлора Хобсона, твердомер по Шору для резины, оборудование для измерения шероховатости поверхности, детали твердомера по Бринеллю, стационарный твердомер, лучшая компания Китая. Завод твердомеров, поставщик твердомеров, производитель твердомеров. Карманный тестер шероховатости поверхности TIME3100 (TR100) https://timetech-ndt.com/product/pocket-surface-roughness-tester-time3100-tr100/
С развитием промышленности металлографические микроскопы получили широкое применение в электронной, химической промышленности и приборостроении для наблюдения поверхностных явлений непрозрачных веществ с целью исследования и анализа; чипы, печатные платы, жидкокристаллические панели, провода, волокна, гальванические покрытия и другие неметаллические материалы и т. д., а также проводить исследования и анализ некоторых состояний поверхности. Профилометр для измерения шероховатости поверхности TIME3231 https://timetech-ndt.com/product/surface-roughness-tester-profilometer-time3231/
Наблюдая за распределением металлографических компонентов металлических конструкций с помощью металлографического микроскопа, можно получить определенные свойства продукта, такие как механические свойства и дефекты производства продукта, тем самым давая предложения по производству и улучшая определенные процессы.
Принцип работы
Система увеличения является ключом к полезности и качеству микроскопа. В основном состоит из объектива и окуляра.
Увеличение микроскопа составляет:
M дисплей = L/f объекта = 7 250/f сетка = M объект = 7 M сетка В формуле [m1] M дисплей = u2014 —указывает увеличение микроскопа; Объект [m2] M, сетка [m3] M и объект [f2] f, сетка [f1] f представляют увеличение и фокусное расстояние объектива и окуляра соответственно; L – длина оптической трубки; 250 — фотопическое расстояние. Все единицы длины указаны в мм. Портативный твердомер Leeb TIME5300 (TH110) https://timetech-ndt.com/product/portable-leeb-hardness-tester-time5300-th110
Разрешение и аберрации. Разрешение объектива и степень коррекции дефектов аберраций являются важными показателями качества микроскопа. В металлографической технологии под разрешением понимается минимальное разрешающее расстояние объектива до целевого объекта. Из-за явления дифракции света минимальное расстояние разрешения объектива ограничено. Немецкий Abb предложил следующую формулу для минимального разрешающего расстояния ( )
d=λ/2nsinφ где [kg2][kg2] — длина волны источника света; n — показатель преломления среды между образцом и линзой объектива (воздух =1; скипидар =1,5); φ — половина угла апертуры объектива.
Из приведенной выше формулы видно, что разрешение увеличивается с увеличением суммы. Поскольку длина волны видимого света [кг2][кг2] находится между 4000 и 7000. В наиболее благоприятном случае, когда угол [кг2][кг2] близок к 90, расстояние разрешения не будет выше [кг2]0,2 м. [кг2]. Поэтому микроструктуру размером менее [кг2]0,2м[кг2] необходимо наблюдать с помощью электронного микроскопа (см.), а морфологию, распределение и кристаллическую структуру ткани в масштабе [кг2]0,2~500м [кг2] Изменения размера частиц, а также толщины и расстояния между зонами скольжения можно наблюдать с помощью оптического микроскопа. Это играет важную роль в анализе свойств сплавов, понимании металлургических процессов, проведении контроля качества металлургической продукции и анализе отказов компонентов.
Степень коррекции аберраций также является важным фактором, влияющим на качество изображения. При малом увеличении аберрация в основном корректируется объективом; при большом увеличении окуляр и объектив необходимо корректировать вместе. Существует семь основных типов аберраций линз, пять из которых — сферическая аберрация, кома-аберрация, астигматизм, кривизна поля и искажение монохроматического света. Существует два типа полихроматического света: продольная хроматическая аберрация и поперечная хроматическая аберрация. Ранние микроскопы были ориентированы в первую очередь на коррекцию хроматической аберрации и частичной сферической аберрации с ахроматическими и апохроматическими объективами в зависимости от степени коррекции. В современных металлографических микроскопах достаточное внимание уделяется аберрациям, таким как кривизна и искажение поля объекта. После коррекции этих аберраций объектива и окуляра изображение не только становится четким, но и сохраняется его плоскостность в большом диапазоне, что особенно важно для металлографической микрофотографии. Поэтому в настоящее время широкое распространение получили планахроматические объективы, планапохроматические объективы и широкопольные окуляры.
