従来の非破壊検査法には、X線検査、磁粉(漏洩磁束)検査、浸透探傷検査、超音波検査、渦電流検査などがあります。



1 放射線検査(RT)

非破壊検査法としては最も早くから応用され、金属・非金属の材料や製品の内部欠陥検査に広く使用されており、少なくとも50年以上の歴史があります。欠陥検査の正確さ、信頼性、直観性という比類のない独自の利点があり、得られた放射線写真フィルムは欠陥分析に使用したり、品質証明書として保管したりできます。ただし、この方法には装置が複雑になりコストが高くなるという欠点もあり、放射線防護に注意を払う必要があります。

鋼管検査システムは、各種鋼管メーカーの生産ラインのオンライン検査ニーズに応えるために、当社が開発・製造した検査システムです。検出システムは生産ライン全体にシームレスに接続されており、現場の鋼管メーカーの制御プロセス要件と管理プロセス要件に適応するために二次管理システム インターフェイスが確保されています。手動、自動、半自動検出モードをサポートします。溶接自動認識技術により、検査準備段階での自動制御が容易になります。データベースを備えており、同じ製品の検査パラメータをワンクリックで自動的にロードできます。 2台の検出器を同時に検査できるため、検査時間を半分に短縮できます。システム全体は高度な自動化と動作検査が行われています。国内鋼管生産ラインでは高いシェアを誇り、大手鋼管メーカーに最適です。

特長
ストレートシーム鋼管用X線リアルタイム画像検出システム、スパイラル鋼管用X線リアルタイム画像検出システム、複合鋼管用X線リアルタイム画像検出システムはいずれも稼働中国内トップレベル。手動、半自動、全自動の 3 つの制御モードがあります。
主な仕様
●適用パイプ径: Φ76 ~ Φ3800mm、δ= 2~25mm(Fe)、Lmax=20 m
●X線管電圧: 30kV~450kV
●産業用画像システム: デジタル イメージング ボード
●検出速度: 1~4m/min連続調整可能
●システム解像度: 38.5Lp/cm 以上
●システムの最高感度: 1.0-2.0%
  1. 磁粉試験(MT)または磁束漏れ試験(EMI)
    検出原理は、強磁性体が磁場中で磁化された後、材料や製品の不連続部(欠陥)により漏れ磁場が発生し、磁石粉末が引き寄せられる(または検出素子で検出する)ことを利用しています。 )と表示されます(または機器に表示されます)。 )。したがって、この方法は、強磁性材料または製品の表面または表面近くの欠陥検査にのみ使用できます。
  2. ペネトレーションテスト(PT)

蛍光・着色を含みます。シンプルな装置と簡単な操作により、磁粉探傷検査の欠点を補う表面欠陥の検出に有効な方法です。主に非磁性材料の表面欠陥検査に使用されます。

蛍光検査の原理は、検査対象物を蛍光液に浸すことです。毛細管現象により蛍光液が欠陥に吸収され、表面の液体が除去されます。光誘起効果により、蛍光液体は紫外線照射下で可視光を放射し、欠陥を明らかにします。

染色検査の原理は蛍光検査と同様です。特別な装置は必要ありません。彼らは現像剤粉末を使用して、欠陥に吸着した着色液体を部品の表面から吸い出し、欠陥を明らかにするだけです。
  1. 超音波検査(UT)

渦電流検査(ET)
  1. 渦電流検査の原理は、交流磁場が金属材料内に同じ周波数の渦電流を生成することです。この渦電流の大きさと金属材料の比抵抗との関係の変化を利用して欠陥を検出します。金属材料の表面に欠陥(クラックなど)があると、その欠陥の存在により比抵抗が増加し、それに伴う渦電流が減少します。渦電流の小さな変化は増幅され、機器によって表示されます。欠陥の存在と大きさを明らかにすることができます。

The principle of eddy current testing is that an alternating magnetic field generates eddy currents of the same frequency in the metal material. The change in the relationship between the size of this eddy current and the specific resistance of the metal material is used to detect defects. When there is a defect on the surface of a metal material (such as a crack), the specific resistance there increases due to the presence of the defect, and the eddy current associated with it decreases accordingly. The small changes in eddy current are amplified and indicated by an instrument. , the existence and size of defects can be revealed.

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