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Avec le développement de l’industrie, les microscopes métallographiques ont été largement utilisés dans les industries de l’électronique, de la chimie et de l’instrumentation pour observer les phénomènes de surface des substances opaques à des fins de recherche et d’analyse ; puces, cartes de circuits imprimés, panneaux à cristaux liquides, fils, fibres, revêtements de placage et autres matériaux non métalliques, etc., et mener des recherches et des analyses sur certaines conditions de surface. Profilomètre testeur de rugosité de surface TIME3231 https://timetech-ndt.com/product/surface-roughness-tester-profilometer-time3231/
En observant la distribution des composants métallographiques des structures métalliques avec un microscope métallographique, certaines propriétés du produit, telles que les propriétés mécaniques et les défauts de production du produit, peuvent être obtenues, fournissant ainsi des suggestions pour la production et améliorant certains processus.
Principe de fonctionnement
Le système de grossissement est la clé de l’utilité et de la qualité d’un microscope. Principalement composé d’un objectif et d’un oculaire.
Le grossissement d’un microscope est :
M display = L/f object = 7 250/f mesh = M object = 7 M mesh Dans la formule, [m1] M display— —indique le grossissement du microscope ; [m2] M object, [m3] M mesh et [f2] f object, [f1] f mesh représentent respectivement le grossissement et la distance focale de l’objectif et de l’oculaire ; L est la longueur du tube optique ; 250 est la distance photopique. Toutes les unités de longueur sont en mm. Testeur de dureté Leeb portable TIME5300 (TH110) https://timetech-ndt.com/product/portable-leeb-hardness-tester-time5300-th110
Résolution et aberration La résolution de l’objectif et le degré de correction des défauts d’aberration sont des indicateurs importants de la qualité du microscope. En technologie métallographique, la résolution fait référence à la distance de résolution minimale de l’objectif à l’objet cible. En raison du phénomène de diffraction de la lumière, la distance de résolution minimale de l’objectif est limitée. L’Abb allemand a proposé la formule suivante pour la distance de résolution minimale ( )
d=λ/2nsinφ où [kg2][kg2] est la longueur d’onde de la source lumineuse ; n est l’indice de réfraction du milieu entre l’échantillon et l’objectif (air ; =1 ; térébenthine : =1,5) ; φ est la moitié de l’angle d’ouverture de l’objectif.
Il ressort de la formule ci-dessus que la résolution augmente à mesure que la somme augmente. Parce que la longueur d’onde de la lumière visible [kg2][kg2] est comprise entre 4 000 et 7 000. Dans le cas le plus favorable où l’angle [kg2][kg2] est proche de 90, la distance de résolution ne sera pas supérieure à [kg2]0,2 m. [kg2]. Par conséquent, la microstructure inférieure à [kg2]0,2 m[kg2] doit être observée à l’aide d’un microscope électronique (voir), tandis que la morphologie, la distribution et la structure cristalline du tissu avec une échelle comprise entre [kg2]0,2~500 m [kg2] Les changements dans la taille des particules, ainsi que dans l’épaisseur et l’espacement des zones de glissement, peuvent être observés au microscope optique. Cela joue un rôle important dans l’analyse des propriétés des alliages, la compréhension des processus métallurgiques, le contrôle qualité des produits métallurgiques et l’analyse des défaillances des composants.
Le degré de correction des aberrations est également un facteur important affectant la qualité de l’imagerie. À faible grossissement, l’aberration est principalement corrigée par l’objectif ; à fort grossissement, l’oculaire et l’objectif doivent être corrigés ensemble. Il existe sept principaux types d’aberrations de lentille, dont cinq sont l’aberration sphérique, l’aberration de coma, l’astigmatisme, la courbure de champ et la distorsion pour la lumière monochromatique. Il existe deux types de lumière polychromatique : l’aberration chromatique longitudinale et l’aberration chromatique transversale. Les premiers microscopes se concentraient principalement sur la correction de l’aberration chromatique et de l’aberration sphérique partielle, avec des objectifs achromatiques et apochromatiques selon le degré de correction. Dans les microscopes métallographiques récents, une attention suffisante a été accordée aux aberrations telles que la courbure et la distorsion du champ de l’objet. Une fois l’objectif et l’oculaire corrigés de ces aberrations, non seulement l’image est claire, mais sa planéité peut également être maintenue sur une large plage, ce qui est particulièrement important pour la microphotographie métallographique. Par conséquent, les objectifs plan achromatiques, les objectifs plan apochromatiques et les oculaires à grand champ sont désormais largement utilisés.
